影響掃描電鏡成像的因素主要有以下幾個方面：

入射電子束的束斑直徑：這是SEM掃描電鏡分辨本領的極限。一般來說，束斑直徑越小，分辨率越高。束斑直徑的大小與電子槍的類型有關，例如，場發射電子槍通常能產生更小的束斑直徑，從而提高分辨率。

入射電子束在樣品中的擴展效應：這個效應取決于入射束電子能量和樣品原子序數的高低。電子能量越高，樣品原子序數越小，電子束在樣品中的作用體積越大，產生的信號區域也隨之增大，這可能會降低分辨率。

成像方式及所用的調制信號：當以二次電子為調制信號時，由于二次電子能量低，平均自由程短，其分辨率通常較高，接近束斑直徑。而以背散射電子為調制信號時，背散射電子能量高，穿透能力強，可從樣品較深處逸出，但其分辨率較低。

加速電壓：加速電壓決定了電子束的能量。通常，加速電壓越大，電子束能量越大，對樣品的穿透深度也越大。然而，過高的加速電壓可能導致電子束在樣品中的擴散區增大，從而降低分辨率。 

樣品的性質：樣品的導電性、表面形貌、化學成分和制備方式等都會影響成像質量。例如，導電性差的樣品在電子束照射下可能產生充放電效應，導致電子束散開，影響分辨率。 

操作技巧和設備狀態：操作者的經驗、技巧以及設備的校準、維護狀態也會對成像質量產生影響。例如，聚焦、掃描速度、信噪比等參數的調整都會影響*終的成像效果。

因此，在使用掃描電鏡進行成像時，需要綜合考慮以上因素，通過優化實驗條件和操作技巧，以獲得高質量的圖像和數據。