掃描電子顯微鏡（SEM）是一種利用電子束掃描樣品表面以獲取其微觀形貌信息的儀器。它適用于多種環境，并在多個領域中發揮重要作用。

S先，SEM掃描電鏡通常在高真空環境下運行，這是為了保持電子束的穩定性和避免與空氣中的分子發生不必要的相互作用。然而，隨著技術的進步，某些現代SEM也能在低真空或環境控制條件下工作，以適應不同樣品的需求，如含水或易揮發的樣品。

其次，SEM適用于廣泛的溫度范圍。雖然大多數SEM在室溫下操作，但也有一些特殊設計的SEM可以在高溫或低溫條件下工作，以觀察材料在不同溫度下的微觀結構變化。

此外，SEM掃描電鏡對于不同類型的樣品也有很強的適應性。它不僅可以觀察金屬、陶瓷、塑料等硬質材料，還可以觀察生物樣本、半導體材料、納米結構等。這使得SEM在材料科學、生物學、醫學、地質學等多個領域都有廣泛的應用。

在具體使用環境中，SEM通常需要穩定的電源供應，并放置在無塵、低震動的環境中，以確保其精度和穩定性。此外，操作者需要具備一定的專業知識和技能，以正確設置參數、操作儀器并解釋結果。

綜上所述，SEM掃描電鏡適合在高真空或特定控制環境下使用，能夠應對多種樣品類型和溫度條件，是科學研究和技術開發領域中的重要工具。