掃描電鏡（SEM）和透射電鏡（TEM）是現代科學研究中常用的兩種顯微鏡。雖然它們都能夠幫助科學家觀察微觀結構，但其工作原理和應用場景存在著顯著的區別。

SEM是一種通過掃描表面獲取圖像的顯微鏡。它使用高能束電子轟擊樣品表面，并測量從樣品表面散射出來的電子信號來重建圖像。通過SEM，科學家可以獲得高分辨率的表面形貌信息，從而研究樣品的形態、表面結構及其組成。SEM常常用于研究材料科學、納米技術和生物科學等領域。

相比之下，TEM是一種通過透射樣品獲取圖像的顯微鏡。它使用高能束電子透射樣品，并測量透射出來的電子信號來重建圖像。通過TEM，科學家可以獲得高分辨率的內部結構信息，從而研究樣品的晶體結構、元素分布以及微觀缺陷等。TEM常常用于研究材料科學、納米技術、生物學和醫學領域。

可以說，SEM和TEM雖然都是電子顯微鏡，但它們的工作原理和應用領域差異明顯。SEM主要關注表面形貌，適用于研究樣品的形態和組成；而TEM主要關注內部結構，適用于研究樣品的晶體結構和微觀缺陷。通過使用這兩種顯微鏡，科學家們可以更全面深入地了解材料的微觀特性。

掃描電鏡和透射電鏡是兩種不同的工具，它們在顯微結構觀察方面有著不同的優勢。選擇合適的電子顯微鏡取決于研究者關注的問題和樣品的特性，而合理地運用這兩種工具將為科學研究帶來更多的可能性。