掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，SEM）是一種高分辨率顯微鏡，通過電子束與樣品表面相互作用來獲得高分辨率的顯微圖像，廣泛應用于材料科學、生物學和納米技術等領域。

工作原理：掃描電鏡通過發射出的高能電子束與樣品表面發生相互作用，利用電子束所產生的信號來獲得樣品的表面形貌和成分信息。電子束從電子槍中發射出，經過一系列的電子透鏡系統聚焦后，*終會聚到樣品表面上，激發出不同的信號。這些信號可以是二次電子、反射電子、散射電子等，它們與樣品表面的形貌和成分之間存在著密切的關聯關系。

應用領域：掃描電鏡在材料科學領域有著廣泛的應用。它可以幫助科學家觀察和研究各種材料的表面形貌和紋理特征，探究材料的微觀結構和性能。在生物學領域，掃描電鏡被廣泛應用于細胞和組織的觀察，可以直觀地顯示器官和細胞的表面特征，幫助科學家了解生物體的微觀結構和功能。此外，掃描電鏡還可以用于納米技術的研究，幫助科學家研究納米材料的性質和制備方法。

掃描電鏡是一種高分辨率顯微鏡，具有獨特的工作原理和廣泛的應用領域。它通過激發樣品表面的信號來獲得高清微觀圖像，幫助科學家深入研究材料、生物和納米領域。掃描電鏡的發展和應用為科學研究和工程技術的發展提供了強大的支持。