掃描電鏡是一種常用于科學研究和材料分析的高分辨率顯微鏡。它通過使用電子束而不是光束來觀察樣品，從而提供更高的放大倍數和更清晰的圖像。下面將介紹掃描電鏡的工作原理和圖示。

工作原理：

掃描電鏡主要分為兩部分：電子源和探測器。在電子源中，通過加熱一個鎢絲，向樣品發射一束高速運動的電子。這些電子隨后通過一系列的透鏡和磁場進行聚焦和控制，*終形成一束射線。在探測器中，這束射線在樣品表面掃描，并與表面交互產生不同的信號。這些信號可以是次級電子、背散射電子、輻射X射線等。探測器將接收到的信號轉換為圖像，并傳送給顯示器。

圖示：

掃描電鏡的工作原理可以通過圖示來更好地理解。在工作原理圖中，可以看到電子源、透鏡系統和樣品之間的關系。電子源發射出的電子通過一系列透鏡和磁場的作用，聚焦成一束射線，然后掃描在樣品表面上。樣品表面與電子束交互產生的信號通過探測器接收，并轉化為圖像以供觀察。

掃描電鏡的工作原理圖為我們提供了直觀的了解，它使用電子束而不是光束來觀察樣品，并通過探測器將交互信號轉化為圖像。通過了解掃描電鏡的工作原理和圖示，我們可以更好地理解其在科學研究和材料分析中的應用。