桌面型掃描電鏡(Scanning Electron Microscope,簡稱SEM)是一種高性能的表面形貌分析儀器。它利用電子束作為掃描手段，能夠在樣品表面產生一系列微弱的光斑，然后通過接收和放大這些光斑來獲取樣品表面的圖像。相比于透射電子顯微鏡(TEM),SEM具有更高的空間分辨率和對樣品非破壞性的觀察方式。

在工作原理上，SEM主要由電子槍、光闌、能譜儀和探測器等部分組成。當電子槍發射出的電子流撞擊到樣品表面時，會產生一些新的物質，如二次電子、俄歇電子等。這些新的物質會吸收或散射特定波長的光線，然后被光闌和能譜儀檢測到，*后由探測器轉換為電信號并生成圖像。

在性能特點方面，SEM具有高的空間分辨率、高放大倍數、低輻射噪聲和對透明樣品的高清晰度等特點。此外，SEM還可以通過各種類型的樣品制備技術(如噴砂、化學腐蝕等)來適應不同類型和形狀的樣品。

在實際應用領域，SEM廣泛應用于材料科學、生物學、環境科學等領域。例如，在材料科學中，SEM可以用于研究材料的晶體結構、界面特性和缺陷分布等問題；在生物學中，SEM可以用于觀察細胞形態、細胞器結構以及病毒和細菌等微生物的結構特征；在環境科學中，SEM則可以用于監測大氣污染、水體污染等情況。

桌面型掃描電鏡作為一種強大的表面分析工具，已經在全球范圍內得到了廣泛的應用。無論是對于科研工作者還是對于普通大眾來說，理解其工作原理和應用領域都是非常有價值的。