掃描電鏡是一種電子顯微鏡，用于觀察樣品表面的微觀結構。以下是SEM掃描電鏡對樣品的要求和限制：

樣品尺寸：掃描電鏡的樣品尺寸通常要求在直徑10mm或12.5mm的載玻片上，但也有一些特殊型號的SEM掃描電鏡可以接受更大尺寸的樣品。

樣品導電性：掃描電鏡需要樣品具有一定的導電性，因為電子束與樣品相互作用時會產生靜電荷，如果樣品不導電，這些靜電荷會導致圖像畸變。因此，對于非導電性樣品，需要進行特殊處理，例如鍍膜或使用離子濺射儀等方法增加導電性。

樣品干燥：SEM掃描電鏡需要樣品處于干燥狀態，因為水分會干擾電子束的傳播，導致圖像模糊。如果樣品濕潤，需要進行干燥處理后再進行觀察。

樣品穩定性：掃描電鏡的工作環境是真空狀態，因此樣品需要能夠承受這種環境。有些樣品可能會在真空中發生改變或分解，這些情況需要進行特殊處理或選擇其他觀察方法。

樣品表面平整度：SEM掃描電鏡對樣品表面的平整度有一定的要求，如果表面不平整或存在凹凸不平的情況，會導致成像失真。因此，對于表面不平整的樣品，需要進行研磨或拋光等處理。

避免磁性物質：如果樣品中含有磁性物質，會對電子束產生干擾，導致圖像畸變。因此，需要對含有磁性物質的樣品進行特殊處理，如退磁處理。

總的來說，掃描電鏡對樣品的要求和限制主要集中在樣品的尺寸、導電性、干燥狀態、穩定性、平整度以及是否含有磁性物質等方面。在選擇合適的樣品并進行觀察時，需要根據實際情況進行評估和處理。