掃描電鏡和透射電鏡是兩種常用的電子顯微鏡，它們在結構和功能上有所不同。

SEM掃描電鏡的工作原理是使用電子束掃描樣品，并通過電子與樣品的相互作用產生各種信號，再通過收集這些信號來生成樣品的圖像。它通常用于觀察樣品表面的形態和結構，特別適用于觀察粗糙的表面和具有較大景深的樣品。掃描電鏡的空間分辨率通常在幾十納米左右，而它的放大倍數可以非常大，達到數百萬倍。

透射電鏡的工作原理則是通過電子束透過樣品來觀察樣品的內部結構。它通常用于觀察薄樣品或者小尺寸的樣品，因為只有薄樣品才能讓電子束透過并產生清晰的圖像。TEM透射電鏡的空間分辨率通常在幾十埃左右，而它的放大倍數也可以達到很高，如數萬倍。

總結來說，SEM掃描電鏡和TEM透射電鏡的主要區別在于觀察樣品的部位和方式。掃描電鏡主要關注樣品表面，而透射電鏡則更注重樣品內部的結構。選擇使用哪種設備取決于研究的目標和樣品的特性。