掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡，具有以下特征：

1、高分辨率：SEM掃描電鏡能夠提供非常高的空間分辨率，可達到0.1納米的水平，可以觀察微小的表面結構和形貌。

2、大深度視場：掃描電鏡能夠提供非常深的視場深度，能夠觀察樣品的三維結構。

3、表面成像：SEM掃描電鏡不僅能夠觀察半透明和不透明的樣品表面，還能夠實現高質量的表面成像，形成非常清晰的圖像。

4、高靈敏度：掃描電鏡能夠檢測樣品表面的電荷變化，并對其進行成像，從而可以觀察到很多電性和化學性質。

5、非破壞性：SEM掃描電鏡無需對樣品進行特殊的制備處理，通常可以使用沒有損傷的樣品進行觀察。

6、樣品類型廣泛：掃描電鏡適用于各種樣品，包括金屬、陶瓷、生物、纖維、塑料等樣品類型，可以提供非常詳細和準確的信息。

總之，SEM掃描電鏡是一種非常強大的顯微鏡，可以提供高質量的表面成像和精確的樣品信息，廣泛應用于材料科學、生物科學、環境科學等領域研究中。