株式會社日立**技術（社長：飯泉 孝／以下稱：日立**技術）將于近期開始銷售小型探針顯微鏡AFM100系列，該系列追求操作性并提高了處理量，可用于科學研究開發以及質量管理，包括原子力顯微鏡（AFM：Atomic Force Microscope / 以下稱：AFM）高性能AFM100 Plus及其入門型號AFM100兩種機型。

　　AFM作為一種掃描探針顯微鏡（SPM : Scanning Probe Mi croscope），使用前端直徑為數納米（1納米：百萬分之一毫米）的尖銳探針掃描樣品表面，可同時實現納米級別的樣品表面的形貌觀察和物性映射評估。AFM已廣泛應用于電池材料、半導體、高分子、生物材料等各個領域的科學研究開發和質量管理。

　　過去，操作AFM的工序繁瑣，不僅要用鑷子夾住裝有探針且寬度約為1mm的懸臂，將其設置在裝置上，還要在懸臂前端探針掃描樣本表面時進行接觸狀態控制和掃描速度調整等步驟。因此，從開始測量到獲取數據，其間的總處理量較低。測量人員的操作熟練程度和使用感覺差異會導致測量條件設置不同，繼而引發所獲得的數據產生差異等問題。

　　日立**技術此次開發的AFM100/100Plus旨在解決上述問題，推動具有高操作性的AFM裝置在工業領域和科學研究開發領域實現普及。通過使用AFM100/100Plus，任何人都能輕松且穩定地獲取可靠數據，從而完成從科學研究用途到質量管理中的日常作業。特別是AFM100 Plus，其用途十分廣泛，可用于從觀察石墨烯和碳納米纖維等納米材料，到超過0.1 mm的大范圍3D形貌觀察、粗糙度分析、物性評估等領域。

　　本產品的主要特點如下。

　　1. 提高了操作性、可靠性及總處理量

　　為簡化過去操作繁瑣的懸臂更換，采用新開發的預裝方式*1懸臂，提高了操作性。而且，通過配備自動向導功能，還可以根據樣品的表面形貌，自動設置*佳測量條件，對探針進行接觸狀態控制和掃描速度調整等，任何人測量都可以得到穩定的結果，從而提高了數據的可靠性。此外，該機型支持自動多點測量，只需點擊一下，從測量，到圖像數據分析、保存可一次性完成，大大縮短了數據測量分析時間。

　　2. 提高了與本公司SEM裝置的親和性

　　選配功能“AFM標記功能”通過采用日立**技術自主開發的S?Mic．（S?Mic：AFM-SEM相關顯微鏡法）觀察方法，提高了與掃描電子顯微鏡SEM（Scanning Electronic Microscope）的親和性。在觀察樣品的同一位置時，可以充分發揮各個設備的特性，對樣品進行機械特性、電氣特性、成分分析等檢測，易于開展多方面分析。

　　3. 實現裝置的擴展性和持續性

　　為確保用戶可長期使用，該裝置標配控制軟件免費下載服務和能夠自行診斷意外故障因素的自檢功能。因此，用戶只需自己動手進行軟件升級，即可始終保持*新性能。

　　日立**技術今后也會繼續提供以本產品為代表的創新解決方案，與客戶攜手創造全新社會及環境價值，為***的產品制造作出貢獻。

　　預裝方式：在用于安裝懸臂的盒式芯片上預先安裝懸臂的方式。

　　■“AFM100 Plus”相關規格

　　■關于我們

　　日立科學儀器（北京）有限公司是世界500強日立集團旗下日立**技術有限公司在北京設立的全資子公司。本公司秉承日立集團的使命、價值觀和愿景，始終追尋“簡化客戶的高科技工藝”的企業理念,通過與客戶的協同創新，積極為教育、科研、工業等領域的客戶需求提供專業和優質的解決方案。我們的主要產品包括：各類電子顯微鏡、原子力顯微鏡等表面科學儀器和前處理設備，以及各類色譜、光譜、電化學等分析儀器。為了更好地服務于中國廣大的日立客戶，公司目前在北京、上海、廣州、西安、成都、武漢、沈陽等十幾個主要城市設立有分公司、辦事處或聯絡處等分支機構，直接為客戶提供快速便捷的、專業優質的各類相關技術咨詢、應用支持和售后技術服務，從而協助我們的客戶實現其目標，共創美好未來。服務熱線：400-898-1021。